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231.21 Verordnung vom 26. April 1993 über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen (Topographienverordnung, ToV)

231.21 Ordonnance du 26 avril 1993 sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs (Ordonnance sur les topographies, OTo)

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Art. 18c Aufbewahrung von Beweismitteln bei Vernichtung der Halbleitererzeugnisse


1 Das BAZG bewahrt die entnommenen Proben oder Muster während eines Jahres ab der Benachrichtigung der Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise des Anmelders, Besitzers oder Eigentümers nach Artikel 77 Absatz 1 des Urheberrechtsgesetzes vom 9. Oktober 199231 auf. Nach Ablauf dieser Frist fordert es die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise den Anmelder, Besitzer oder Eigentümer auf, die Proben oder Muster in ihren beziehungsweise seinen Besitz zu nehmen oder die Kosten der weiteren Aufbewahrung zu tragen. Ist die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise der Anmelder, Besitzer oder Eigentümer dazu nicht bereit oder lässt sie beziehungsweise er sich innerhalb von 30 Tagen nicht vernehmen, so vernichtet das BAZG die Proben oder Muster.

2 Das BAZG kann anstelle der Entnahme von Proben oder Mustern Fotografien der vernichteten Halbleitererzeugnisse erstellen, soweit damit der Zweck der Sicherung von Beweismitteln gewährleistet ist.

30 Eingefügt durch Ziff. I der V vom 21. Mai 2008, in Kraft seit 1. Juli 2008 (AS 2008 2543).

31 SR 231.1

Art. 18c Conservation des moyens de preuve en cas de destruction des produits semi-conducteurs

1 L’OFDF conserve les échantillons prélevés durant un an à compter de la communication adressée au déclarant, au possesseur ou au propriétaire conformément à l’art. 77, al. 1 de la loi du 9 octobre 1992 sur le droit d’auteur31. Après expiration de ce délai, il invite le déclarant, le possesseur ou le propriétaire à reprendre possession des échantillons ou à supporter les frais pour la poursuite de leur conservation. Si le déclarant, le possesseur ou le propriétaire ne donne pas suite à cette invitation ou s’il ne fait pas connaître sa décision dans les 30 jours, l’OFDF détruit les échantillons.

2 Au lieu de prélever des échantillons, l’OFDF peut faire des photographies des produits semi-conducteurs détruits pour autant que cette mesure permette de garantir la conservation des moyens de preuve.

30 Introduit par le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juil. 2008 (RO 2008 2543).

31 RS 231.1

 

Dies ist keine amtliche Veröffentlichung. Massgebend ist allein die Veröffentlichung durch die Bundeskanzlei.
Ceci n’est pas une publication officielle. Seule la publication opérée par la Chancellerie fédérale fait foi. Ordonnance sur les publications officielles, OPubl.