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231.21 Verordnung vom 26. April 1993 über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen (Topographienverordnung, ToV)

231.21 Ordonnance du 26 avril 1993 sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs (Ordonnance sur les topographies, OTo)

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Art. 18a Proben oder Muster

1 Der Antragsteller oder die Antragstellerin kann die Übergabe oder Zusendung von Proben oder Mustern zur Prüfung oder die Besichtigung der Halbleitererzeugnisse beantragen. Anstelle von Proben oder Mustern kann das BAZG dem Antragsteller oder der Antragstellerin auch Fotografien der zurückbehaltenen Halbleitererzeugnisse übergeben, wenn diese eine Prüfung durch den Antragsteller oder die Antragstellerin ermöglichen.

2 Der Antrag kann zusammen mit dem Antrag auf Hilfeleistung bei der Oberzolldirektion oder während des Zurückbehaltens der Halbleitererzeugnisse direkt bei der Zollstelle gestellt werden, welche die Halbleitererzeugnisse zurückbehält.

28 Eingefügt durch Ziff. I der V vom 21. Mai 2008, in Kraft seit 1. Juli 2008 (AS 2008 2543).

Art. 18a Échantillons

1 Le requérant peut présenter une demande pour solliciter la remise ou l’envoi d’échantillons à des fins d’examen ou l’inspection des produits semi-conducteurs retenus. Au lieu d’échantillons, l’OFDF peut aussi lui remettre des photographies desdits produits semi-conducteurs si elles lui permettent d’effectuer cet examen.

2 Le requérant peut présenter cette demande à la Direction générale des douanes en même temps que la demande d’intervention ou, pendant la rétention des produits semi-conducteurs, directement au bureau de douane qui retient les produits semi-conducteurs.

28 Introduit par le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juil. 2008 (RO 2008 2543).

 

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