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231.21 Ordonnance du 26 avril 1993 sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs (Ordonnance sur les topographies, OTo)

231.21 Ordinanza del 26 aprile 1993 sulla protezione delle topografie di prodotti a semiconduttori (Ordinanza sulle topografie, OTo)

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Art. 18c Conservation des moyens de preuve en cas de destruction des produits semi-conducteurs

1 L’OFDF conserve les échantillons prélevés durant un an à compter de la communication adressée au déclarant, au possesseur ou au propriétaire conformément à l’art. 77, al. 1 de la loi du 9 octobre 1992 sur le droit d’auteur31. Après expiration de ce délai, il invite le déclarant, le possesseur ou le propriétaire à reprendre possession des échantillons ou à supporter les frais pour la poursuite de leur conservation. Si le déclarant, le possesseur ou le propriétaire ne donne pas suite à cette invitation ou s’il ne fait pas connaître sa décision dans les 30 jours, l’OFDF détruit les échantillons.

2 Au lieu de prélever des échantillons, l’OFDF peut faire des photographies des produits semi-conducteurs détruits pour autant que cette mesure permette de garantir la conservation des moyens de preuve.

30 Introduit par le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juil. 2008 (RO 2008 2543).

31 RS 231.1

Art. 18c Conservazione dei mezzi di prova in caso di distruzione dei prodotti a semiconduttori

1 L’UDSC trattiene i campioni prelevati per un periodo di un anno dalla notifica del depositante, del detentore o del proprietario in virtù dell’articolo 77 capoverso 1 della legge del 9 ottobre 199231 sul diritto d’autore. Allo scadere di tale termine l’UDSC invita il depositante, il detentore o il proprietario a prendere in custodia i campioni, oppure ad assumere i costi per la conservazione ulteriore. Qualora il depositante, il detentore o il proprietario non sia disposto a prendere in custodia i campioni oppure ad assumere i costi per la conservazione ulteriore, o se non si esprime entro 30 giorni, l’UDSC distrugge i campioni.

2 Invece di prelevare campioni l’Amministrazione delle dogane può fotografare i prodotti a semiconduttori distrutti, a condizione che ciò consenta di garantire la conservazione dei mezzi di prova.

30 Introdotto testo giusta il n. I dell’O del 21 mag. 2008, in vigore dal 1° lug. 2008 (RU 2008 2543).

31 RS 231.1

 

Ceci n’est pas une publication officielle. Seule la publication opérée par la Chancellerie fédérale fait foi. Ordonnance sur les publications officielles, OPubl.
Il presente documento non è una pubblicazione ufficiale. Fa unicamente fede la pubblicazione della Cancelleria federale. Ordinanza sulle pubblicazioni ufficiali, OPubl.